波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）

能量色散型X射線熒光光譜儀（ED-XRF）

兩種同屬于X射線熒光分析儀，它們產(chǎn)生信號(hào)的方法相同，最后得到的波譜也極為相似，但由于采集數(shù)據(jù)的方式不同，這兩種在原理和儀器結(jié)構(gòu)上有所不同，功能也有區(qū)別。

原理上：

波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀是用分光近體，將熒光光束色散后，測(cè)定各種元素的特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度，從而測(cè)定各種元素的含量。一般由光源（X-射線管），樣品室，分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。

能量色散型熒光光譜儀是借助高分辨率敏感半導(dǎo)體檢查儀器與多道分析器，將未色散的X射線熒光按光子能量分離X色線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來(lái)測(cè)定各元素的量，由于原理的不同，故儀器結(jié)構(gòu)也不同。

能量色散型熒光光譜儀（ED-XRF） 是借助高分辨率敏感半導(dǎo)體檢查儀器與多道分析器，將未色散的X射線熒光按光子能量分離X色線光譜線，根據(jù)各元素能量的高低來(lái)測(cè)定各元素的量，由于原理的不同，故儀器結(jié)構(gòu)也不同。

而我們艾克手持光譜儀就是能量色散X熒光光譜儀，樣品跟檢測(cè)器彼此靠得越近，X射線的利用率很高，不需要光學(xué)聚集，在累計(jì)整個(gè)光譜時(shí)，對(duì)樣品位置變化不象波長(zhǎng)色散型熒光光譜儀那樣敏感，對(duì)樣品形狀也無(wú)特殊要求。廣泛應(yīng)用于合金，地質(zhì)、冶金、環(huán)境、石化、等眾多領(lǐng)域。